オゾン水による基板の有機物洗浄試験(2)

試験目的

オゾン水洗浄における、有機物除去性の面内均一性を確認。及び、オゾンによるAl膜への影響度(表面酸化)を確認。

試験条件
使用オゾン発生器 研究開発用オゾン発生器 ED-OG-R4(旧ED-OGM-1)
洗浄水圧力 0.1MPa
O2ガス圧力 0.2MPa
O2ガス流量 0.5l/min
オゾン発生器電流値 1A
オゾン発生器冷却水温度 27℃
オゾン濃度 130g/Nm3
オゾン発生量 6g/hr
洗浄基板製作フロー

基板上にアルミ成膜

→レジスト塗布(54cp)

→プリベーク(恒温槽110℃,5min)

→剥離液槽(2min)

→IPA洗浄槽(2min)

→純水洗浄槽(2min)

→純水洗浄フィルター循環槽(2min)

→最終スプレー洗浄

洗浄検討
項目 基板
No.
洗浄
方法
洗浄
時間
O2
圧力
O2
流量
有機物残渣測定
(XPS)
表面酸化
測定
(XPS)
センター R50 R90 R50
リファレンス 1 - - - - × ×
内面均一性 2 オゾン
水洗浄
40sec 0.2MPa 0.5l/min ×
表面酸化 3 オゾン
水洗浄
40sec 0.2MPa 0.5l/min × × ×
4 5min × × ×
残渣確認 5 オゾン
水洗浄
40sec 0.2MPa 0.5l/min × × ×
測定ポイント

センター,R50,R90の計3点の有機物残渣を測定する。

測定ポイント 内面均一性

R50付近1点を測定する。

測定ポイント 表面酸化
結果
オゾン水洗浄面均一性 酸化

基板面内均一性は良好である。(センター,R50,R90の残渣量がほぼ同じ)

酸化に関しては、40sec,5min共、特に変化は見られなかった。(リファレンスレベル)

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